Свяжитесь с нами: +7 499 350-20-60 | info@conetech.ru

micromillУстройство MicroMill предназначено для отбора сложных аккреционных структур в костных и кристаллических материалах.

Материалы: горные породы, минералы, стекла, пластики, порошки, биологические материалы, тонкие пленки, керамика, металлы, сплавы.

Применения:

  • комплексное зонирование роста кристаллов: субсэмплирование обеспечивает элементную изотопную химию высокого разрешения и внутризонные изменения кристаллической структуры
  • исследование аккреционной структуры роста: субсэмплирование в пределах годовой полосы роста раковин моллюсков позволяет реконструировать сезонные изменения, присутствующие в течение жизни организма, такого как моллюск
  • точный отбор зон роста в натёчных образованиях: определение сезонных изменений путем точной выборки в сложных профилях зон роста
  • отбор образцов из отолитов и кости: оценка элементного и изотопного состава материалов, похожих на кость, благодаря точному измельчению

Превосходная производительность и аналитические результаты.

Технические характеристики:

  • стереомикроскоп высокого разрешения с оптическим зумом от 6,7x до 40x и с цветной CCD-видеокамерой; с полем зрения от 24.5 до 3.3 мм для визуализации и оцифровки образца
  • независимая (вторая) цветная ПЗС-камера с 3-кратным цифровым увеличением для наблюдения за сверлом в процессе измельчения
  • автоматизированное перемещение 50 мм по X, Y и Z с субмикронным шагом
  • открытая архитектура для больших образцов
  • программно выбираемые поток воды и проходящее освещение
  • плавно регулируемые (360) скрещенные поляризаторы
  • переменная скорость вращения (1200 – 35 000 об/мин)
  • прецизионные фрезерные инструменты из карбида вольфрама для высокого пространственного разрешения
  • джойстик для ручного позиционирования образца

Предназначена для аналитической науки.

  • субмикронный контроль движения образца
  • высокоточное измельчение
  • определение высоты образца и коррекция наклона датчиком сверла, функция следования контуру
  • навигация по карте образца увеличивает поле обзора
  • 50-мм перемещение образца с помощью компьютера по осям X, Y и Z
Translation