Свяжитесь с нами: +7 499 350-20-60 | info@conetech.ru

Лазерные сканирующие микроскопы

vk-x1Лазерные сканирующие конфокальные микроскопы серии VK-X компании Keyence являются самыми привлекательными с точки зрения возможностей приборами для измерения профиля поверхности образца, шероховатости, толщины пленки и, конечно же, для получения изображения поверхности с суб-микронным разрешением. Многие инновации в лазерной сканирующей микроскопии были сделаны компанией Keyence. Их флагманом является модель VK-X1000. Модель не стало исключением с точки зрения нововведений и сочетает в себе такие новые для индустрии особенности, как:

  • Площадь анализа в 16 раз больше, чем у других, обычных лазерных микроскопов.
  • Быстрые 3D измерения, в 12 раз быстрее, чем с использованием других, обычных лазерных микроскопов.
  • Измеряемый диапазон 50 мм.
  • Гарантированная точность с объективами с малым увеличением.

Предыдущие модели микроскопов Keyence имели такие новшества для своего времени, как:

  • Самое высокое разрешение по Z – 0.5 нм.
  • Самый высокий динамический диапазон детектора – 16 бит.
  • Широкоформатное сканирование (сшивка).
  • Полностью автоматизированные измерения по нажатию одной кнопки.
  • Получение изображений высокого разрешения с реалистичной цветопередачей. 16-битное цветное лазерной изображение.
  • 3CCD режим камеры, дающий разрешение 21.6 Мп.
  • Точные результаты измерений на наклонных поверхностях или объектах с различным уровнем контрастности.
  • Режим сканирования на сверхвысокой скорости 120 Гц.
  • Функция HDR для беспрецедентной четкости изображения, что позволяет рассмотреть объект в мельчайших подробностях.
  • Функция коррекции позиции относительно эталонного изображения объекта. Полезно при измерении большого количества подобных объектов.
  • Штатив с настраиваемой высотой.

При этом первый лазерный сканирующий микроскоп был выпущен компанией Keyence в 1995 году.

Лазерный сканирующий микроскоп Keyence VK-X1000 фактически является прибором, включающим в себя возможности оптического микроскопа, профилометра и сканирующего электронного микроскопа. Микроскоп позволяет получать изображения в цвете с высоким увеличением, 3D, с высоким разрешением, с высокой контрастностью, с большой глубиной резкости и при этом проводить измерения шероховатости без повреждения образцов, линейных размеров, размеров объектов различных форм и т.д. Не требуется подготовка образцов, нет ограничений по их размерам. Все измерения выполняются на воздухе: не требуется создание вакуума для достижения увеличения 28800x.

Сайт производителя: www.keyence.com

Translation