Свяжитесь с нами: +7 499 350-20-60 | info@conetech.ru

BDEM-25 настольный SEM с полевой эмиссией

BDEM-25 — настольный растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией на основе катода Шоттки (Schottky FEG), обеспечивающий разрешение менее 2 нм и увеличение до 500 000×. Это один из самых высокопроизводительных настольных FE-СЭМ: в одном компактном приборе объединены режимы BSE, SE, EDS и EBSD без необходимости специального фундамента или виброизолирующего стола.

Автоэмиссионный катод Шоттки — качество изображений нового уровня

В отличие от вольфрамовых термоэмиссионных катодов, автоэмиссионный катод Шоттки формирует пучок высокой яркости с малым диаметром зонда, что позволяет получать изображения с разрешением <2 нм — на уровне полноразмерных FE-СЭМ. Это открывает возможности для работы с наноматериалами, нанотрубками, частицами с субнанометровыми деталями и тонкими плёнками.

Полностью автоматическое управление

Серия BDEM объединяет быструю съёмку, полный автоматический режим и высокую виброустойчивость. Одним нажатием автоматически настраиваются яркость, контраст и фокус; поддерживается сшивка крупноформатных изображений. Интуитивный интерфейс и оптическая навигация с видеокамерой внутри камеры образцов обеспечивают лёгкость позиционирования даже для начинающих операторов.

Режим торможения пучка — анализ без напыления

Опциональный режим высоковольтного торможения предметного столика (0–10 кВ) позволяет исследовать непроводящие и низкопроводящие образцы без напыления проводящего слоя. Это критически важно при работе с полимерами, керамикой, фармацевтическими порошками и биологическими объектами.

Многофункциональная аналитика в одном приборе

BDEM-25 поддерживает полный набор аналитических методов непосредственно в настольном исполнении:

  • BSE — детектор обратноотражённых электронов (контраст по атомному номеру)

  • SE — детектор вторичных электронов (топографический контраст)

  • EDS — энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (элементный анализ)

  • EBSD — дифракция обратноотражённых электронов (кристаллографический анализ)

Большая камера образцов и in situ расширения

Камера образцов 185 × 176 × 125 мм вмещает крупные образцы и допускает интеграцию in situ приставок. Предметный столик доступен в конфигурациях 2-, 3-, 4- и 5-осевого исполнения для наклонных, вращательных и томографических экспериментов.

Области применения

  • Наноматериалы: углеродные нанотрубки, частицы золота, диоксид кремния

  • Материалы для аккумуляторов: фосфат лития-железа (LFP), катодные порошки

  • Металловедение и кристаллография (EBSD)

  • Полупроводниковые и микроэлектронные компоненты

  • Контроль качества в химической и фармацевтической промышленности

  • Научные исследования в нанотехнологиях и материаловедении

Технические характеристики

Параметр Значение
Тип источника Автоэмиссионный катод Шоттки (Schottky FEG)
Разрешение < 2 нм
Увеличение до 500 000×
Ускоряющее напряжение до 15 кВ, плавная регулировка
Детекторы BSE, SE, EDS (опц. EBSD)
Режим торможения пучка Опция: 0–10 кВ
Размеры камеры образцов 185 × 176 × 125 мм
Предметный столик 2-, 3-, 4- или 5-осевой (на выбор)
Режим съёмки (видео) 512 × 512 пикс.
Режим съёмки (изображение) 2048 × 2048 пикс.
Translation