Свяжитесь с нами: +7 499 350-20-60 | info@conetech.ru

BDEM-20 настольный SEM

BDEM-20 — настольный растровый электронный микроскоп (РЭМ) профессионального класса с вольфрамовым термоэмиссионным катодом и широкими возможностями расширения. Прибор сочетает разрешение 5 нм и увеличение до 360 000× с компактным настольным форм-фактором, режимом торможения пучка для анализа непроводящих образцов и богатой экосистемой in situ приставок.

Разрешение и диапазон увеличений

BDEM-20 обеспечивает увеличение от 25× до 360 000× — максимальное значение среди настольных РЭМ с вольфрамовым катодом — и разрешение до 5 нм. Ускоряющее напряжение плавно регулируется от 3 до 18 кВ с шагом 1 кВ, что позволяет точно подбирать режим под чувствительные образцы и твёрдые материалы.

Режим торможения пучка — без напыления золотом

Опциональный режим высоковольтного торможения предметного столика (10 кВ) позволяет исследовать низкопроводящие и непроводящие образцы в режиме реального времени без предварительного напыления проводящего слоя. Это существенно сокращает время подготовки образца и снижает риск его повреждения.

Сверхбольшая камера образцов и in situ приставки

Камера образцов размером 185 × 176 × 125 мм — одна из самых вместительных в классе настольных РЭМ — позволяет интегрировать широкий спектр in situ платформ: растяжной столик, нагревательный столик, криостолик TEC, модуль наноиндентирования. Встроенная видеокамера внутри камеры обеспечивает визуальный контроль размещения образца в режиме реального времени.

Быстрая смена образцов — 30 секунд

Благодаря постоянному поддержанию вакуума 5×10⁻⁵ Па в пушечном блоке время смены образца составляет всего 30 секунд. Это значительно повышает производительность при серийном анализе и продлевает ресурс вольфрамового катода. Опционально доступен катод LaB₆ для повышенной яркости пучка.

Гибкие вакуумные режимы

Режим Параметры
Высокий вакуум Автоматический, смена образца за 30 с
Низкий вакуум (опция) 1–60 Па, автоматическое управление

Низковакуумный режим незаменим при работе с влажными, пористыми или газовыделяющими образцами биологического и химического происхождения.

Детекторы и программное обеспечение

Стандартная комплектация включает четырёхсегментный детектор обратноотражённых электронов (BSE) и детектор вторичных электронов (SE); опционально доступен интегрированный спектрометр (EDS). Программное обеспечение поддерживает автоматическую настройку яркости, контраста, фокуса, авторассеяние и сшивку крупноформатных изображений.

Пятиосевой предметный столик (опция)

Опциональный 5-осевой центрированный столик с параметрами X: 90 мм, Y: 50 мм, Z: 25 мм, R: 360°, T: −10°…+90° даёт полную свободу позиционирования образца при наклонных и томографических исследованиях. Базовый трёхосевой вариант: X: 60 мм, Y: 60 мм, T: ±45°.

Области применения

  • Промышленный контроль качества и инспекция изделий

  • Исследование волокон, полимеров и химических материалов

  • Анализ катодных и анодных материалов литий-ионных аккумуляторов (в т.ч. тернарного лития)

  • Металловедение и материаловедение

  • Фармацевтика и науки о жизни

  • Ботаника, экология и биология растений

  • Тестирование электронных компонентов и диэлектрических плёнок

Технические характеристики

Параметр Значение
Ускоряющее напряжение 3–18 кВ, шаг 1 кВ
Разрешение 5 нм
Увеличение 25–360 000×
Ход столика (базовый) X: 60 мм, Y: 60 мм, T: ±45°
Макс. размер образца Ø 50 мм × 35 мм (высота)
Рабочее расстояние 5–35 мм
Камера образцов 185 × 176 × 125 мм
Питание 220 В / 50 Гц / 1 кВт
Габариты основного блока 650 × 553 × 505 мм
Translation