Свяжитесь с нами: +7 499 350-20-60 | info@conetech.ru

IMA VISСистема гиперспектральной микроскопии Photon Etc IMA™ может быть использована для фотолюминесценции, электролюминесценции, флюоресценции в режиме темного поля, на отражение и прохождение. IMA™ использует технологию глобального картирования (Global Mapping), что позволяет получать миллионы спектров в течение секунд.

Платформа IMA™ для гиперспектральной микроскопии обеспечивает высокое спектральное и пространственное разрешение. Система является модульной и может быть сконфигурирована для быстрого сканирования в видимой области, в ближней ИК области и/или коротковолновой ИК области спектра. Каждый прибор Photon Etc IMA™ оснащен высокопроизводительными фильтрами глобальной визуализации, что позволяет измерять мегапиксельный гиперкуб быстрее, чем гиперспектральные системы, зависящие от сканирующей спектрографии.

Photon Etc IMA™ дает возможность:

  • характеризации солнечных элементов и контроля качества полупроводников (например, перовскита, GaAs, SiC, CIS, CIGS и т.д.): обнаружение и характеризация дефектов, измерение оптоэлектрических свойств таких, как напряжение разомкнутой цепи и внешняя квантовая эффективность
  • изучения ИК маркеров в сложных средах, включая живые клетки и ткани. Взять, например, спектральную гетерогенность ИК-флуорофоров, излучающих во втором биологическом окне
  • получения темнопольного изображения и получения контраста прозрачных и неокрашенных образцов, таких как полимеры, кристаллы или живые клетки (например, задача определения состава и местоположения наноматериалов, введенных в клетки)

Общие характеристики:

  • быстрое глобальное картирование (без сканирования)
  • высокое пространственное и спектральное разрешение
  • система целиком (источник, микроскоп, камера, фильтр, программное обеспечение)
  • неразрушающий анализ
  • доступна кастомизация
  • чувствительность от 400 до 1200 нм в видимой области и от 900 нм до 1700 нм в коротковолновом ИК диапазоне

Технические характеристики:

Спектральный диапазон видимый — коротковолновый ИК
400 — 1620 нм
видимый
400-1000 нм
SWIR (коротковолновый ИК)
900-1620 нм
Спектральное разрешение < 2.5 нм < 4 нм
Камера CCD, EMCCD, sCMOS ZephIR 1.7
Длины волн возбуждения (до 3 лазеров) 405, 447, 532, 561, 660, 730, 785 или 808 нм
Микроскоп Прямой или инвертированный; исследовательского класса
Пространственное разрешение Субмикронное (ограничено числовой апертурой объектива микроскопа)
Максимальный размер образца 10 см x 10 см
Интервал перемещения X,Y 76 мм x 52 мм
Разрешение по Z 100 нм
Опции освещения Диаскопическое, Эпископическое, LED, HG,
Модуль эпифлуоресценции, модуль темного поля
Абсолютная погршность по длине волны 0.25 нм
Режим видео Мегапиксельная камера для визуализации образцов
Обработка данных Пространственная фильтрация, инструменты статистики, извлечение спектра, нормализация данных,

спектральная калибровка, перекрытие, карта центрального положения и т.д.

Формат гиперспектральных данных HDF5, FITS
Формат данных отдельного изображения HDF5, CSV, JPG, PNG, TIFF
Программное обеспечение PHySpec™ управление и анализ (с компьютером)
Размеры ≅ 150 см x 85 см 82 см
Вес ≅ 80 кг
Translation